中科星瀚BGA芯片檢測設(shè)備正式交付
編輯：網(wǎng)站編輯 | 發(fā)布時(shí)間：2022-04-13
近期，中科星翰在擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的軟件平臺上實(shí)現(xiàn)了3D視覺測量技術(shù)與視覺缺陷檢測技術(shù)的完美融合，解決了國內(nèi)首款國產(chǎn)GPU—凌久GP102的外觀檢測問題。目前首臺具有自主知識產(chǎn)權(quán)的BGA芯片檢測設(shè)備已正式交付并通過驗(yàn)收，該設(shè)備可滿足芯片出廠質(zhì)量控制和可追溯性需求。BGA芯片檢測設(shè)備A3DOI-BGA可批量采集芯片的三維圖像數(shù)據(jù)、平面RGB圖像數(shù)據(jù)、激光點(diǎn)云數(shù)據(jù)等，結(jié)合傳統(tǒng)及人工智能算法，實(shí)現(xiàn)測量精度、缺陷識別率等各項(xiàng)性能指標(biāo)的完全達(dá)標(biāo)。該設(shè)備的核心傳感器均來自國產(chǎn)，具備微米級別測量精度，可兼容多種BGA封裝芯片檢測。
